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Product catalog

激光測量設備

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太赫茲掃描干涉儀
太赫茲掃描干涉儀主要用于測量窄帶太赫茲輻射的波長和強度分布，同時也可用于脈沖和連續(xù)窄帶太赫茲輻射源。TSFPI由兩個半透明平行硅鏡組成，其中一個安裝在電機驅動的線性致動器上。

型號：廠商性質：代理商
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KALEO法國Phasics多波長激光干涉儀模塊
KALEO套件多波長激光干涉儀模塊是用于光學計量的模塊化系統(tǒng)。它由多種相互兼容的模塊組合而成，可讓用戶搭建一個經濟有效，體積緊湊且易于使用的完整光學測試系統(tǒng)。法國Phasics多波長激光干涉儀模塊

型號：KALEO 廠商性質：代理商
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點衍射激光干涉儀
點衍射激光干涉儀: 絕對測量精度(Peak-to-valley): ± 0.6 nm (λ/1000) 分辨率(Peak-to-valley): 0.05 nm (λ/12000) 波前重復精度(RMS): 0.23 nm (λ/2800)

型號：廠商性質：代理商
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半導體/薄膜無損檢測儀
半導體/薄膜無損檢測儀：半導體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數電子設備提供了基本組件。它的制造需要在硅晶片上進行多次薄膜沉積，。

型號：廠商性質：代理商
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綜合電子測量分析儀（十二功能合一）
綜合電子測量分析儀（十二功能合一）可讓您觀察DC到250 MHz之間頻域中的輸入信號。在100Hz的zui小跨度下，同時查看分辨率低至1 Hz的兩個數據通道。頻譜分析儀還具有兩個集成的波形發(fā)生器，能夠產生高達250 MHz的正弦波。

型號：廠商性質：代理商
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quDIS皮米精度位移激光干涉儀
昊量光電推出的皮米精度位移干涉測量儀quDIS是對納米級別的位移波動進行量測的理想儀器，基于其*的測量原理，相對距離的重復精度達到了50皮米。quDIS可同時支持三個測量通道，使其可以適用于任意的多軸測量中。quDIS在原理上同樣采用激光干涉法，不過與傳統(tǒng)激光干涉儀相比，其集成了法珀腔（Reference cavity）及飽和吸收氣室（GC）作為頻率校準參考，通過皮米精度位移激光干涉儀

型號：quDIS 廠商性質：代理商
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Xper WLI白光干涉儀
Xper WLI 是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。白光干涉儀

型號：Xper WLI 廠商性質：代理商
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干涉儀.邁克爾遜干涉儀 FTIR用
在一個臂上增加一個移動反光鏡以完成干涉儀，并允許光路差在零OPD附近變化。堅固的結構和對準的特點，意味著 INT 05 系列干涉儀很適合您更高精度的近紅外分析儀的應用。邁克爾遜干涉儀 FTIR用

型號：干涉儀. 廠商性質：代理商
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高精度位移測量儀-激光干涉儀
昊量光電推出的PICOSCALE位移測量儀產品是基于激光干涉方法設計的非接觸式位移和振動測量設備。因為不需要物理接觸，所以測量不會影響物體。這尤其適用于較小的物體，它們的動力學很容易受到傳統(tǒng)測量探頭的影響。微位移測量儀廣泛應用于定位技術中，可以在pm分辨率下位移跟蹤定位。高精度位移測量儀-激光干涉儀

型號：廠商性質：代理商
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λ/1000超高精度激光干涉儀
愛沙尼亞Difrotec公司的激光干涉儀是市場上高精度干涉儀的*產品，測量精度可達0.6nm（λ/1000）. 其*產品D7激光干涉儀采用點衍射技術，主要用于高精度的表面（平面,球面,非球面,自由曲面）檢測及透射波前檢測。λ/1000超高精度激光干涉儀

型號：廠商性質：代理商
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